
电铸SOCKET测试弹片
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电铸SOCKET测试弹片依托电化学原子逐层沉积成型技术,搭配纳米级精密光刻工艺与无尘闭环生产体系,从工艺根源解决传统弹片的结构性缺陷。产品甄选进口高纯镍钴合金基材,材质致密均匀、晶粒结构细腻,相较于普通材质,具备更强的弹性稳定性、抗疲劳性与导电性,内部无残留应力,杜绝长期回弹变形、松弛、偏移等问题。
生产过程采用超高精度光刻制版,可准确复刻超薄弹片轮廓、微小型触点结构、异形弯曲臂、密集阵列弹片组,图形复刻准确、无尺寸偏差、无轮廓失真。核心电铸成型环节采用智能恒温恒压沉积系统,匀速成型弹片整体结构,厚度均匀可控、臂宽一致、过渡弧度流畅,无需二次打磨、折弯、修正。成品经过精密去应力处理、表面抛光、抗氧化强化、可选镀金处理,触点镜面平整、无毛刺、无凹凸颗粒,有效保证接触稳定、阻值均匀、抗氧化能力强,适配高频、大电流、长时间连续测试工况。
弹片整体弹性均衡、回弹灵敏、形变一致性好,百万次高频测试不易疲劳失效,结构稳定性远超传统加工弹片。触点平整度高、接触面积准确,能够实现低阻抗、低误差、高重复性的接触测试,有效杜绝虚接、断接、接触跳动导致的测试误判。
支持单点弹片、阵列弹片、高低位异形弹片、超薄悬臂弹片等各类非标结构定制,可根据测试座结构、芯片间距、测试压力、电流参数、设备行程进行结构优化与弹性匹配。
表面可做镀金、防氧化、耐磨强化处理,提升导电性、耐腐蚀性与使用寿命,适配各类严苛测试环境长期稳定运行。
适配MCU、存储芯片、功率芯片、通讯芯片测试座与老化座,保障大批量芯片测试数据稳定、一致性高
用于晶圆探针模组、微触点测试阵列,适配微小间距、高密度点位精密检测
应用于射频、高频精密器件测试治具,低阻抗、低干扰,保证高频测试精度
弹片弹性稳定、抗疲劳老化,在传感器耐久测试中保持持续可靠接触
触点平整无毛刺,保障精密元器件反复测试时阻值稳定,数据可靠
适配微型模组狭小空间点位测试,降低治具损耗,减少维护更换成本
经验积淀
工艺迭代
快速交付
作为长三角电铸测试弹片源头厂家,我司拥有独立无尘电铸车间、精密检测设备与标准化生产体系,从光刻制版、合金电铸、应力释放、精密后处理到成品检测出货,全程自主管控、层层质检,有效保障产品精度与品质稳定性。
区别于传统加工工艺,电铸增材成型无机械应力、无材质损伤、结构精度更高、弹性一致性更好,是高端半导体测试弹片的优选工艺。
技术团队可根据客户测试图纸、结构参数、弹性要求、测试工况定制专属弹片方案,助力客户提升测试稳定性、降低治具损耗、提高测试良率,持续为半导体精密测试行业提供高精度、高耐久、高可靠的电铸SOCKET测试弹片一站式定制服务。
对金属板基材进行清洗、脱脂除油处理。
在基材表面涂覆一层感光涂层,即光刻胶。
采用紫外激光直接成像(LDI)对基材曝光,将 CAD 零件图形投射并转移至基材表面。曝光区域内光刻胶发生固化,使图形化的基材表面划分出导电区与非导电区。
由持证技术人员使用专用检测设备开展尺寸与外观检测,核实产品符合规格要求。
将电铸成型零件从母模上剥离分离。可通过调整电铸工艺获得不同产品特性。例如:采用薄光刻胶,让金属向外生长,零件厚度大于光刻胶厚度,零件外部轮廓由电沉积成型,该工艺叫做过生长电铸。
电沉积工序在电解槽内完成,包含阳极、阴极两组电极以及电解液。将母模置入电解槽,电极向电解液通入直流电。直流电使金属离子还原为金属原子,原子持续沉积在母模导电区域,直至金属达到目标厚度。
对图形化基材做显影处理,去除未曝光的光刻胶,裸露出导电区域;随后冲洗、烘干。完成图形化处理的基材自此称作母模(零件模芯)。
卓力达精密电铸加工,适用于精密金属滤网、微细孔结构、异形金属件、薄型金属部件及复杂微结构零件制造。
工艺精度高、边缘光洁,可根据图纸、样品或工况需求定制孔径、厚度、材质与表面状态,提供从打样到批量生产的一站式加工服务。
卷对卷蚀刻,又叫卷材连续化学蚀刻,是将成卷金属卷材不间断输送,连续完成涂布、曝光、显影、蚀刻、清洗、收卷的自动化化学腐蚀加工工艺,是精密金属零件量产的核心工艺,常用来加工卷材蚀刻滤网、引线框架、金属弹片、微孔带材。很多制造企业在大批量生产精密超薄金属件时,对比单张片式蚀刻,卓力达卷对卷蚀刻可以...... 【详情+】
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